蛍光X線膜厚測定 材料分析装置 Fischer XDV-SD
―有害元素測定モード搭載―
分解能の良い半導体検出器を使用、１台で高精度な膜厚測定、RoHS、ELV指令の有害元素を測定することが可能です。材料分析においても、Al(13)～U(92)までの定量多元素分析ができ、材料上の合金めっき皮膜の成分比の測定も可能となっております。
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Fischer XDV-SD
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有害元素蛍光Ｘ線検査装置
有害元素蛍光X線検査装置が導入されました。RoHS・ELV指令など有害化学物質の測定が可能になりました。
新光学系により、検出度が向上しています。微小部分析と高感度分析の両立が可能となりました。 |
有害元素蛍光X線検査装置 XGT-1700WR |
めっき厚測定機器
半導体測定装置
無電解ニッケル中のリン含有量及び、亜鉛ニッケル中のニッケル含有量など測定でき、制限のある含有量などを測定し添付することが可能です。
表面処理、めっきなどの厚み及び成分分析、硬度、表面粗度などあらゆる測定が可能です。また、JIS規格の塩水噴霧試験機がありますので、各製品での耐食試験が可能です。 |
SII SEA5200 半導体検出器 |
めっき厚測定機器
比例計数管測定装置
金属状の異種金属の厚さを短時間で測定できます。また、測定したデータの結果を添付し、ISOなどのトレースに対応できます。
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金属顕微鏡及びマイクロスコープ
各工場に1台金属顕微鏡及びマイクロスコープがあります。
金属顕微鏡は最大1500倍、マイクロスコープは最大3000倍の拡大が可能です。
また、データは電子データとなりますので、めっき断面測定などの測定結果、解析結果などが容易にできます。
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硬度測定器
最新式の硬度測定器と自動測定ソフトにより、硬度の自動測定が可能になり、人による測定誤差がなくなりました。
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塩水噴霧試験装置
JISの中性噴霧試験条件で耐食性を確認できます。
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表面粗さ測定装置
2001年度のJIS規格にも対応しています。
3次元テーブルがありますので、シャフトなどの精密部品面祖度で、Rmax、Ryの測定が正確に行なえます。 |
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