Ｘ線検出器にシリコンドリフト検出器（SDD）を採用した高性能な蛍光Ｘ線膜厚測定器です。様々な素材上の多種めっき膜厚測定や非常に薄い皮膜の膜厚測定、NiPの組成分析測定などができます。

原子吸光分析装置でありながら、ICP発光分析に匹敵する多元素シーケンシャル測定を可能にしました｡

金属コーティング等の前処理無しでSEM観察ができ、スピーディーな画像観察が可能。また反射電子像、二次電子像のほか、反射電子像＋二次電子像の合成像も取得でき、表面形状と組成情報を合成した双方の特徴を活かした画像観察もできます。
加速電圧が20kVまで対応。EDS分析において、より高計数の分析が可能。

電磁力（フォースモーター）方式の負荷機構を採用することで、試験力(10～1000gf)を自由に選択することができる微小硬さ試験機です。
ソフトウェアAVPAKによる自動読取り機能を備えたシステムを選定しました。

接触式表面粗さ計で各種規格、パラメーターに対応しておりす（JIS1982、JIS1994、JIS2001など）。
接触式面粗さ測定器の利点として明瞭な形状波形が得られるとともに、長い距離の測定が可能です。

高解像度HRレンズと4K CMOS、高機能照明で構成されるOpt-SEMにより、カラーでの観察や多方向照明変位解析が可能で、従来のデジタルマイクロスコープ画像の６倍となる約1222万画素の高解像度で撮影ができます。

50倍～1,000倍まで明視野観察、暗視野観察、微分干渉観察が可能です。画像を電子データにでき、断面観察により膜厚の画像測定が可能です。

均一な噴霧分布を得ることができる噴霧塔を用い5%塩化ナトリウムを添加した水溶液を連続的に噴霧します。ISO・JIS等、各種規格に適合しためっきなどの表面処理の耐食性試験が可能です。主に亜鉛、亜鉛合金めっきの評価に適しています。

塩水噴霧試験をより過酷にした腐食試験で、5%塩化ナトリウムにさらに塩化第二銅と酢酸を添加した水溶液を連続的に噴霧します。ISO・JIS等、各種規格に適合しためっきなどの表面処理の耐食性試験が可能です。銅－ニッケル－クロム系などの耐食性に優れためっきを評価するのに適した試験で、厳しい環境下で使用する製品の評価に適しています。

コンパクトながら本格的な環境試験性能を持ち、-60℃から+150℃までの幅広い制御範囲を、新開発N計装により高精度にコントロール。
多彩な機能とオプションでシステムアップにより様々な試験が行えます。

キセノン連続光源を用いる事により、原子吸光分析装置でありながら、ICP発光分析に匹敵する他元素シーケンシャル測定を可能にしました。